Repository landing page
Analysis of performance variation in 16nm FinFET FPGA devices
Abstract
Abstract is not available.- FPGA
- Process variability
- Reliability
- Ring oscillator
- Performance variation
- Μεταβλητότητα υλικού
- Ταλαντωτής δακτυλίου
- Αξιοπιστία
- Μεταβλητότητα απόδοσης
- Θερμοκρασία
- FPGA
- Process variability
- Reliability
- Ring oscillator
- Performance variation
- Μεταβλητότητα υλικού
- Ταλαντωτής δακτυλίου
- Αξιοπιστία
- Μεταβλητότητα απόδοσης
- Θερμοκρασία